VLSI测试方法学和可测性设计 正版图书,下单速发,可开发票
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雷绍充,邵志标,梁峰著 /2005-01-01 /电子工业出版社
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VLSI测试方法学和可测性设计,雷绍充,邵志标,梁峰著,电子工业出版社
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