中村刚史、马场守、伊部英治、矢作康夫、龟山英明著的《大气中子在先进存储器件中引起的软错误》由日本东北大学的。Takashi Nakamura、日立有限公司的Eishi Ibe和萨瑞公司的Hideaki Kamayama编著，详细介绍了宇宙射线产生的大气层中子辐射环境、几种典型的中子能谱和剂量探测器、中子单粒子翻转截面的中子实验方法、中子单粒子效应模拟的蒙特卡罗模型、国际上的一些实验标准规范以及加固方法。 本书内容丰富、信息量大、指导性强，是一部集基础理论和实用技术为一体的专著，不仅对从事抗辐射加固技术研究的科研人员具有很好的参考价值，对新加入该领域的研究人员了解单粒子效应也提供了的基础知识。希望该书中译本的出版可供同行借鉴参考。
¥68.99定价：¥140.00 (4.93折)
中村刚史、马场守、伊部英治、矢作康夫、龟山英明著的《大气中子在先进存储器件中引起的软错误》由日本东北大学的。Takashi Nakamura、日立有限公司的Eishi Ibe和萨瑞公司的Hideaki Kamayama编著，详细介绍了宇宙射线产生的大气层中子辐射环境、几种典型的中子能谱和剂量探测器、中子单粒子翻转截面的中子实验方法、中子单粒子效应模拟的蒙特卡罗模型、国际上的一些实验标准规范以及加固方法。 本书内容丰富、信息量大、指导性强，是一部集基础理论和实用技术为一体的专著，不仅对从事抗辐射加固技术研究的科研人员具有很好的参考价值，对新加入该领域的研究人员了解单粒子效应也提供了的基础知识。希望该书中译本的出版可供同行借鉴参考。
¥67.61定价：¥136.22 (4.97折)
¥71.70定价：¥89.00 (8.06折)
