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作者自攻读硕士研究生起就跟着导师金喜平教授从事莫尔条纹细分理论和光栅数显数控系统的研究。近年来，作者一直致力于光栅大量程纳米测量与定位及应用的研究。光栅因其具有精度高、成本低等优势，在传统的数显数控行业得到了非常广泛的应用。随着现代工业的飞速发展，对大量程纳米级位移测量与控制的需求不断扩大，基于光栅的大量程纳米级测量与控制的研究得到迅速发展。近年来的研究重点是以应用广泛的低线密度光栅传感器为研究对象，以实际应用工况为前提，以实现低成本的大量程纳米级位移测量为目标，利用现代信号处理理论研究新型的莫尔条纹细分方法和光栅栅距在线测量方法。本书是作者多年的研究成果。
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