LabVIEW虚拟仪器设计及应用——程序设计、数据采集、硬件控制与信号处理
教学资源 ? 教学课件 配书教学课件(PPT)可到清华大学出版社网站本书页面下载。 ? 示例程序 配书示例程序(VI)可到清华大学出版社网站本书页面下载。
¥53.80定价:¥69.00 (7.8折)
LabVIEW虚拟仪器设计及应用 程序设计、数据采集、硬件控制与信号处理 清华大学出版社 新华书店正版,关注店铺成为会员可享店铺专属优惠,团购客户请咨询在线客服!
¥56.60定价:¥69.00 (8.21折)
LabVIEW虚拟仪器设计及应用——程序设计、数据采集、硬件控制与信号处理(高等学校电子信息类专业系列教材)
¥48.00定价:¥69.00 (6.96折)
LabVIEW虚拟仪器设计及应用 程序设计、数据采集、硬件控制与信号处理 郝丽,赵伟 著 新华书店正版,关注店铺成为会员可享店铺专属优惠,团购客户请咨询在线客服!
¥51.20定价:¥69.00 (7.43折)
LabVIEW虚拟仪器设计及应用 程序设计、数据采集、硬件控制与信号处理 清华大学出版社 新华书店正版,关注店铺成为会员可享店铺专属优惠,团购客户请咨询在线客服!
¥51.00定价:¥69.00 (7.4折)
¥58.60定价:¥69.00 (8.5折)
漏磁成像理论与方法 清华大学无损检测技术专家著作!中国对外出版计划项目,英文版由De Gruyter出版发行!
黄松岭教授长期专著于漏磁检测缺陷反演成像理论与技术,通过大量卓有成效的工作,取得了显著的理论成果并获得了工程应用。本书系统论述了漏磁成像的基本理论,包括漏磁检测影响因素、检测信号处理方法、缺陷当量尺寸量化方法、缺陷轮廓反演、三维漏磁成像等内容。 本书是作者对漏磁检测缺陷反演与成像理论的系统梳理,并汇集了作者10多年来的科研与技术应用成果,对于高校师生和从事无损检测技术的工程人员极具参考价值。
¥41.60定价:¥49.00 (8.49折)
¥64.50定价:¥86.00 (7.5折)