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嵌入式处理器调试方法与案例分析 扈啸 著 新华书店正版,关注店铺成为会员可享店铺专属优惠,团购客户请咨询在线客服!
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嵌入式处理器调试方法与案例分析 扈啸,王耀华 著 国防科技大学出版社
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可作为从事集成电路辐射效应和抗辐射加固技术研究的老师、工程技术人员以及研究生的专业参考书。
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