¥32.00定价:¥48.00 (6.67折)
Product Details 基本信息 ISBN-13 书号 9787030194626 Author 作者 许振嘉 主编 Format 版本 精装 Publisher 出版社 科学出版社 Publication Date 出版日期 2007-09-01 Product Dimensions 商品尺寸 B5 Language 语种 其它(含多语) Book Contents 内容简介 本书的内容与1984年靠前版的内容接近不同。本书介绍补充了这二十年来半导体科研、生产中很常用的各种检测、分析方法和原理。全书共分7章,包括引论,半导体的高分辨X射线衍射,光学检测与分析,表面、薄膜成分分析,扫描探针显微学在半导体中的运用,透射电子显微学及其在半导体中的应用和半导体深中心的表征。书中根据实践列举了一些实例,同时附有大量参考文献和常用的数据,以便读者进一步参考和应用。 本书可供从事半导体科研和生产的科研人员,大专院校老师和研究生使
¥77.00定价:¥154.00 (5折)
¥15.00定价:¥20.00 (7.5折)
¥63.20定价:¥80.00 (7.9折)
电子科学与技术、光信息科学与技术等专业“光电检测技术”课程的本科生,应用物理、通信工程、电子工程等相关专业的研究生和科技人员
¥24.00定价:¥32.00 (7.5折)
2009年年初,全球金融危机对各国经济的巨大冲击进一步显现。一场全球范围内的绿色革命和新的经济发展模式正在孕育之中,资源节约、环境友好、劳动友好、创造更多就业机会的技术群和产业群成为备受关注的未来世界经济发展的制高点。 本书将详细介绍2009年世界前沿技术领域的重大进展和发展动向,阐述若干国家科技发展的重要战略和部署,并对前沿技术发展的重大问题进行分析,及对各国前沿技术领域的差距进行比较研究。
¥44.20定价:¥56.00 (7.9折)