超大规模集成电路测试【正版图书,满额减】 【速开发票,优质售后,支持7天无理由退换】
¥302.70定价:¥736.50 (4.11折)
超大规模集成电路测试【正版图书,满额减】 【速开发票,优质售后,支持7天无理由退换】
¥303.10定价:¥727.50 (4.17折)
超大规模集成电路测试 雷绍充,邵志标,梁峰 编著 电子工业出版社【正版可开发票】
¥293.00定价:¥603.00 (4.86折)
超大规模集成电路测试 雷绍充,邵志标,梁峰 编著 电子工业出版社【正版】 正版图书,下单前请先咨询客服,欢迎选购!
¥346.67定价:¥703.34 (4.93折)
超大规模集成电路测试 【速开发票,优质售后,支持7天无理由退换】
¥209.25定价:¥548.90 (3.82折)
超大规模集成电路测试【正版图书,满额减】 【速开发票,优质售后,支持7天无理由退换】
¥303.30定价:¥737.70 (4.12折)
超大规模集成电路测试【正版书籍,满额减】 【速开发票,优质售后,支持7天无理由退换】
¥303.30定价:¥727.90 (4.17折)
超大规模集成电路测试 【店主推荐,正版书放心购买,可开发票】
VLSI测试与可测性设计方法学已甄成熟,诸多理论和方法也为设计和制造界广泛接受,亦成为EDA工具的基本特征。本书系统化编撰迄今为止主流的方法学与结构,为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础,也为电路(包括电路级、芯片级和系统级)的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。本书主要内容包括电路测试基础,验证、模拟和仿真,自动测试生成,专用可测性设计,扫描设计,边界扫描法,随机测试和伪随机测试,内建自测试,电流测试,存储器测试,SoC测试。本书既可作为高等院校高年级学生和研究生的专业课教材,也可作为从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员的参考用书。
¥289.01定价:¥630.18 (4.59折)
¥303.14定价:¥607.28 (5折)
全新正版图书 敏捷硬件开发语言Chisel与数字系统设计梁峰电子工业出版社9787121434129人天图书专营店 正版图书保证质量 七天无理由退货让您购物无忧
¥50.20定价:¥69.00 (7.28折)
超大规模集成电路测试 雷绍充,邵志标,梁峰 编著 电子工业出版社【正版】
¥318.95定价:¥977.85 (3.27折)
超大规模集成电路测试 雷绍充,邵志标,梁峰 编著 电子工业出版社【正版可开发票】 全国三仓发货,物流便捷,下单秒杀,欢迎选购!
¥253.00定价:¥513.37 (4.93折)
¥39.20定价:¥45.00 (8.72折)