电子器件和集成电路单粒子效应 9787568296564 曹洲,安恒,高欣 著 人民邮电出版社
本书层次结构清晰，内容详实，总结了单粒子效应领域新研究成果，系统深入地阐述了电子器件和集成电路空间单粒子效应的基本概念和原理，试验测试的基础理论和方法，单粒子效应对电子系统的影响及防护设计基本方法，空间单粒子翻转率计算及不确定性分析等方面的内容。
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曹洲,安恒,高欣 著 /2021-03-01 /人民邮电出版社
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