内部残余应力全貌测试技术——轮廓法 刘川 科学出版社 【新华书店正版图书书籍】 正版全新书籍 正规发票 多仓就近发货 85%城市次日送达 关注店铺可享店铺优惠!
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刘川 /2024-03-01 /科学出版社
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